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LEI Model2017B，通過汞探針接觸方法，對各類半導體材料的載流子濃度分布進行測試，特別適合GaN.SiC等化合物材料。
更新時間：2025-01-23
產(chǎn)品型號：LEI Model2017B
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更新時間：2025-01-23產(chǎn)品型號：瀏覽量：459
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更新時間：2025-01-23產(chǎn)品型號：瀏覽量：427公司郵箱： qgao@buybm.com
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